Oxidation kinetics of AlAs and (AlGa)As layers in GaAs-based diode laser structures: comparative analysis of available experimental data.

Articolo
Data di Pubblicazione:
2003
Abstract:
Tipologia CRIS:
01.01 Articolo in rivista
Elenco autori:
Link alla scheda completa:
https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/22645
Pubblicato in:
SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY (PRINT)
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