Optical characterization of radiative deep centres in 6H-SiC junction field effect transistors

Articolo
Data di Pubblicazione:
2004
Tipologia CRIS:
01.01 Articolo in rivista
Elenco autori:
Link alla scheda completa:
https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/53599
Pubblicato in:
SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY (PRINT)
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