Resistance changes due to Cu transport and precipitation during electromigration in submicrometric Al-0.5%Cu lines
Articolo
Data di Pubblicazione:
1996
Tipologia CRIS:
01.01 Articolo in rivista
Elenco autori:
Scorzoni, Andrea; Balboni, Roberto; Tamarri, Fabrizio; Garulli, Alberto
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