Real time spectroscopic ellipsometric analysis of Ge film growth on Si(001) substrate.

Articolo
Data di Pubblicazione:
2003
Abstract:
2003, vol.428, pag. 160-164
Tipologia CRIS:
01.01 Articolo in rivista
Link alla scheda completa:
https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/22659