Surface scattering effects in polysilicon thin film transistors.

Articolo
Data di Pubblicazione:
2003
Tipologia CRIS:
01.01 Articolo in rivista
Keywords:
polycrystalline sili; thin film transistor; field effect mobilit
Elenco autori:
Autori di Ateneo:
Link alla scheda completa:
https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/22628
Pubblicato in:
APPLIED PHYSICS LETTERS
Journal