Study of InAs/GaAs stacked quantum dots by high resolution X-ray diffraction techniques
Capitolo di libro
Data di Pubblicazione:
2008
Tipologia CRIS:
02.01 Contributo in volume (Capitolo o Saggio)
Keywords:
Quantum dots; X-ray
Elenco autori:
Germini, Fabrizio; Bocchi, Claudio
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