Twofold coordinated Ge defects induced by gamma-ray irradiation in Ge-doped SiO2

Articolo

Data di Pubblicazione:

2008

Tipologia CRIS:

01.01 Articolo in rivista

Keywords:

SiO2; gamma-ray irradiation; Ge defects

Elenco autori:

Magistris, Aldo

Link alla scheda completa:

https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/22030

Pubblicato in:

OPTICS EXPRESS

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