INFLUENCE OF A THIN INTERFACIAL OXIDE LAYER ON THE ION-BEAM ASSISTED EPITAXIAL CRYSTALLIZATION OF DEPOSITED SI
Articolo
Data di Pubblicazione:
1988
Tipologia CRIS:
01.01 Articolo in rivista
Elenco autori:
Priolo, Francesco; Rimini, Emanuele; Spinella, ROSARIO CORRADO
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