Comparative study of microdefects in dislocation-free heavily Si doped VB GaAs by DSL etching, NIR phase contrast microscopy, TEM and X-ray diffuse scattering
Abstract
Data di Pubblicazione:
1996
Tipologia CRIS:
04.02 Abstract in Atti di convegno
Elenco autori:
Frigeri, Cesare
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Titolo del libro:
Abstract book