CBED STRAIN-MEASUREMENTS IN BORON IMPLANTED SILICON

Articolo
Data di Pubblicazione:
1991
Tipologia CRIS:
01.01 Articolo in rivista
Keywords:
TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY; DIFFRACTION; SIMULATION
Elenco autori:
Autori di Ateneo:
Link alla scheda completa:
https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/17821
Pubblicato in:
MICROSCOPY MICROANALYSIS MICROSTRUCTURES
Journal