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  1. Pubblicazioni

Wafer-scale VLSI testing

Contributo in Atti di convegno
Data di Pubblicazione:
2000
Abstract:
Sommario non disponibile.
Tipologia CRIS:
04.01 Contributo in Atti di convegno
Keywords:
Wafer scale integration; Computer-communication networks; VLSI systems; Types and design styles
Elenco autori:
Chessa, Stefano; Maestrini, Piero; Caruso, ANTONIO MARIO
Link alla scheda completa:
https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/365657
Link al Full Text:
https://iris.cnr.it//retrieve/handle/20.500.14243/365657/32357/prod_406545-doc_142223.pdf
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