Advanced methods for the analysis of x-ray absorption spectroscopy data applied to semiconductors

Capitolo di libro
Data di Pubblicazione:
2011
Tipologia CRIS:
02.01 Contributo in volume (Capitolo o Saggio)
Elenco autori:
Autori di Ateneo:
Link alla scheda completa:
https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/132922
Titolo del libro:
Special issue on (nano)characterization of semiconductor materials and structures
Pubblicato in:
SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY (PRINT)
Journal