A simple model to predict how many more failures will appear in testing
Contributo in Atti di convegno
Data di Pubblicazione:
1998
Abstract:
Sommario non disponibile.
Tipologia CRIS:
04.01 Contributo in Atti di convegno
Keywords:
Bayesian approach; Defect count models; Fuctional testing; Number of expected fai
Elenco autori:
Bertolino, Antonia
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