Interferometric system for the simultaneous measurement of the index of refraction and of the thickness of transparent materials and related procedures
Brevetto
Data di Pubblicazione:
2003
Tipologia CRIS:
06.01 Brevetto di invenzione industriale
Keywords:
Laser; Ottica; interferometria; indicedi rifrazione; analisi di frange
Elenco autori:
DE NICOLA, Sergio; Ferraro, Pietro
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