MC-IR-LST and TEM combined analysis of defects in the OSF-ring of Cz-silicon crystals

Abstract
Data di Pubblicazione:
2000
Tipologia CRIS:
04.02 Abstract in Atti di convegno
Keywords:
CZ Si; EBIC; LST; TEM; OSF-ring
Elenco autori:
Link alla scheda completa:
https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/130052
Titolo del libro:
Abstract book