Analysis of extended defects in CZ silicon annealed in either oxygen or nitrogen by optical and electron beams methods
Abstract
Data di Pubblicazione:
2001
Tipologia CRIS:
04.02 Abstract in Atti di convegno
Keywords:
Si; annealing; stacking faults
Elenco autori:
Frigeri, Cesare
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Titolo del libro:
Abstract book