Misura degli spessori delle finiture policrome mediante spettrometria ED-XRF

Contributo in Atti di convegno
Data di Pubblicazione:
2012
Tipologia CRIS:
04.01 Contributo in Atti di convegno
Elenco autori:
Autori di Ateneo:
Link alla scheda completa:
https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/12067