Detailed DF-TEM and X-ray diffraction investigations of interfaces in MOVPE grown InGaP/GaAs heterojunctions
Abstract
Data di Pubblicazione:
2006
Tipologia CRIS:
04.02 Abstract in Atti di convegno
Keywords:
InGaP/GaAs; Interface; Chemical composition; Electron beam methods
Elenco autori:
Bosi, Matteo; Germini, Fabrizio; Attolini, Giovanni; Frigeri, Cesare; Pelosi, Claudio
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Titolo del libro:
abstract book