Experimental and simulation study of the program efficiency of HfO 2 based charge trapping memories

Contributo in Atti di convegno
Data di Pubblicazione:
2010
Abstract:
[object Object]
Tipologia CRIS:
04.01 Contributo in Atti di convegno
Keywords:
charge trapping memories; HfO2; electrical charcaterization; simulation
Elenco autori:
Autori di Ateneo:
Link alla scheda completa:
https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/291794