The use of Surface Enhanced Raman Scattering to investigate the surface of semiconductors

Contributo in Atti di convegno

Data di Pubblicazione:

1994

Tipologia CRIS:

04.01 Contributo in Atti di convegno

Keywords:

Surface Enhanced Raman Scattering; surface; semiconductors

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Titolo del libro:

International Conference on the Physics of Semiconductors

Pubblicato in:

Journal