Conductive atomic force microscopy and Scanning impedance microscopy for the imaging of electrical domain in CaCu3Ti4O12 perovskite oxide
Contributo in Atti di convegno
Data di Pubblicazione:
2010
Tipologia CRIS:
04.01 Contributo in Atti di convegno
Elenco autori:
Fiorenza, Patrick; Raineri, Vito; LO NIGRO, Raffaella
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