Data di Pubblicazione:
2016
Abstract:
A variety of numerical tools can be used to compensate for unwanted aberrations in acquired digitized holograms and improve the precision of metrology measurements.
Tipologia CRIS:
01.01 Articolo in rivista
Keywords:
MEMS; holography
Elenco autori:
Ferraro, Pietro; Pagliarulo, Vito
Link alla scheda completa:
Pubblicato in: