Optical properties of reactively sputtered TeOx amorphous films

Articolo
Data di Pubblicazione:
2005
Abstract:
[object Object]
Tipologia CRIS:
01.01 Articolo in rivista
Keywords:
Integrated optics materials; Ellipsometry and polarimetry; Thin films; optical properties
Elenco autori:
Autori di Ateneo:
Link alla scheda completa:
https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/296203
Pubblicato in:
APPLIED OPTICS (2004)
Journal