Chemical characterization of extra layers at the interfaces in MOCVD InGaP/GaAs junctions by electron beam methods
Abstract
Data di Pubblicazione:
2010
Tipologia CRIS:
04.02 Abstract in Atti di convegno
Keywords:
InGaP/GaAs; Interface; Chemical composition; Electron beam methods
Elenco autori:
Grillo, Vincenzo; Frigeri, Cesare
Link alla scheda completa: