Electrical and reliability investigation of AlGaN/GaN HEMTs grown on 8° off-axis 4H-SiC

Contributo in Atti di convegno
Data di Pubblicazione:
2011
Tipologia CRIS:
04.01 Contributo in Atti di convegno
Elenco autori:
Autori di Ateneo:
Link alla scheda completa:
https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/284467
Titolo del libro:
Proceedings of the 35th European Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits - WOCSDICE2011