Characterization of lattice defects in ion-implanted silicon

Capitolo di libro
Data di Pubblicazione:
1996
Tipologia CRIS:
02.01 Contributo in volume (Capitolo o Saggio)
Elenco autori:
Autori di Ateneo:
Link alla scheda completa:
https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/203406
Titolo del libro:
X-RAY AND NEUTRON DYNAMICAL DIFFRACTION: THEORY AND APPLICATIONS
Pubblicato in:
NATO ASI SERIES. SERIES B: PHYSICS
Series