An EBIC method for the quantitative determination of dopant concentration at striations in LEC GaAs
Contributo in Atti di convegno
Data di Pubblicazione:
1987
Tipologia CRIS:
04.01 Contributo in Atti di convegno
Keywords:
EBIC; GaAs; dopant concentration; striations
Elenco autori:
Frigeri, Cesare
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Titolo del libro:
Microscopy of Semiconducting Materials 1987
Pubblicato in: