Electrical instability in self-aligned p-channel polysilicon TFTs related to oxide residual damage
Articolo
Data di Pubblicazione:
2008
Tipologia CRIS:
01.01 Articolo in rivista
Elenco autori:
Rapisarda, Matteo; Mariucci, Luigi; Pecora, Alessandro; Fortunato, Guglielmo; Valletta, Antonio
Link alla scheda completa:
Pubblicato in: