Composition determination of the interlayer at the inverted interfaces in InGaP/GaAs heterojunctions

Poster
Data di Pubblicazione:
2008
Tipologia CRIS:
04.03 Poster in Atti di convegno
Keywords:
Characterization; III-V compounds
Elenco autori:
Autori di Ateneo:
Link alla scheda completa:
https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/99313