Data di Pubblicazione:
2016
Abstract:
La Microscopia a Forza Atomica é una microscopia a sonda sviluppata negli anni '80 da Gerd Binnig, Calvin Quate e Christoph Gerber. E? di sicuro la microscopia a sonda più versatile poiché si riesce ad utilizzarla su sistemi molto variegati, dalle superfici in vuoto per misurare a risoluzione atomica, fino agli esperimenti in ambito biologico.
Questo libro é pensato per uno studente o un ricercatore che voglia approfondire gli aspetti fisici peculiari delle varie modalità di misura nella Microscopia a Forza Atomica, non sempre discussi estensivamente nei testi sul tema. Sono descritti in dettaglio i modelli di contatto e adesione tra i corpi, le modalità di contatto e di forza laterale nonché le modalità cinetiche: un ampio spazio è dedicato alla fisica dell'oscillatore armonico interagente con una superficie. Un breve accenno sugli aspetti tecnici è altresì presente, ma senza entrare in dettaglio poiché discussi ampiamente in numerosi testi e anche su diversi siti in rete.
Tipologia CRIS:
03.09 Manuale/libro di testo
Keywords:
AFM; Contact mode; Tapping mode; Non contact mode
Elenco autori:
Placidi, Ernesto
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