ANALYSIS OF HOT-CARRIER-INDUCED DEGRADATION IN POLYCRYSTALLINE SILICON THIN-FILM TRANSISTORS
Contributo in Atti di convegno
Data di Pubblicazione:
1993
Tipologia CRIS:
04.01 Contributo in Atti di convegno
Elenco autori:
Mariucci, Luigi; Pecora, Alessandro; Fortunato, Guglielmo; Tallarida, Graziella
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Titolo del libro:
ESSDERC '93 - PROCEEDINGS OF THE 23RD EUROPEAN SOLID-STATE DEVICE RESEARCH CONFERENCE