Metrological Applications of X-ray Waveguide Thin Film Structures in X-ray Reflectometry and Diffraction

Articolo

Data di Pubblicazione:

2002

Tipologia CRIS:

01.01 Articolo in rivista

Link alla scheda completa:

https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/432102

Pubblicato in:

ACTA PHYSICA POLONICA A

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