Spettrometro in campo vicino con risoluzione di 100 nm basato su di un laser a Titanio in zaffiro a banda larga accoppiato ad un sistema SNOM ad apertura

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Data di Pubblicazione:
2006
Abstract:
Spettrometro in campo vicino con risoluzione di 100 nm basato su di un laser a Titanio in zaffiro a banda larga accoppiato ad un sistema SNOM ad apertura, con applicazioni allÂ’imaging alla nanoscala di materiali organici e sensibile alle varie fasi del materiale
Tipologia CRIS:
05.12 Altro
Elenco autori:
Link alla scheda completa:
https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/193732