Strain and Ge concentration determinations in SiGe/Si multiple quantum wells by TEM methods
Contributo in Atti di convegno
Data di Pubblicazione:
1999
Tipologia CRIS:
04.01 Contributo in Atti di convegno
Keywords:
silicon
Elenco autori:
Armigliato, Aldo; Balboni, Roberto
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Titolo del libro:
MICROSCOPY OF SEMICONDUCTING MATERIALS 1999
Pubblicato in: