High Magnetic Field Dependence of Capture/Emission Fluctuations of a Single Defect in Silicon MOSFETs

Contributo in Atti di convegno

Data di Pubblicazione:

2005

Tipologia CRIS:

04.01 Contributo in Atti di convegno

Elenco autori:

Prati, Enrico

Link alla scheda completa:

https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/193299

Titolo del libro:

AIP Conference Proceedings