Reflection XAFS

Capitolo di libro
Data di Pubblicazione:
2016
Abstract:
This chapter describes the technique of total reflection XAS.
Tipologia CRIS:
02.01 Contributo in volume (Capitolo o Saggio)
Keywords:
Reflection XAS; Synchrotron Radiation Instrumentation; XAS data analysis
Elenco autori:
Autori di Ateneo:
Link alla scheda completa:
https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/322299
Titolo del libro:
XAFS Techniques for Catalysts, Nanomaterials, and Surfaces