A new charge-trapping technique to extract SILC-trap time constants in SiO2

Contributo in Atti di convegno
Data di Pubblicazione:
2005
Tipologia CRIS:
04.01 Contributo in Atti di convegno
Elenco autori:
Link alla scheda completa:
https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/76030