Chemistry and Electronic Phenomena at Surfaces and Interfaces:Interplay between Material Processing and Properties highlighted by Ellipsometry

Contributo in Atti di convegno

Data di Pubblicazione:

2008

Tipologia CRIS:

04.01 Contributo in Atti di convegno

Elenco autori:

Losurdo, Maria

Link alla scheda completa:

https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/54746