Scanning Probe Microscopy Applied to Ferroelectric Materials

Capitolo di libro
Data di Pubblicazione:
2006
Abstract:
Scanning Probe Microscopy Applied to Ferroelectric Materials
Tipologia CRIS:
02.01 Contributo in volume (Capitolo o Saggio)
Keywords:
ferroelectrics; scanning probe microscopy
Elenco autori:
Autori di Ateneo:
Link alla scheda completa:
https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/86977
Titolo del libro:
Applied Scanning Probe Methods III