Data di Pubblicazione:
2001
Abstract:
Si è realizzato il prototipo di uno spettrometro XRF portatile di sensibilità molto elevata rispetto agli strumenti analoghi disponibili sul mercato; lo strumento è ottimizzato per lo studio dei materiali metallici e consente l'eccitazione efficiente e la rivelazione delle righe K di elementi intermedi come Ag, Sn e Sb
Tipologia CRIS:
05.12 Altro
Keywords:
Fluorescenza a raggi X non-distruttiva; strumenti portatili; metalli
Elenco autori:
Ferretti, Marco
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