Lpe highly perfect ingaasp/lnp structure characterization by x-ray double crystal diffractometry

Articolo

Data di Pubblicazione:

1987

Abstract:

[object Object]

Tipologia CRIS:

01.01 Articolo in rivista

Keywords:

crystal quality; InGaAsP/lnP; LPE; x-ray double crystal diffractometry

Elenco autori:

Link alla scheda completa:

Pubblicato in:

Journal

URL