Data di Pubblicazione:
2007
Abstract:
Quantitative analysis of nanometric films is achieved by soft X-ray imaging using a laser-plasma source and LiF crystals as detectors. Excitation of color center fluorescence in exposed LiF allows image detection with sub-micron resolution
Tipologia CRIS:
04.01 Contributo in Atti di convegno
Elenco autori:
Villoresi, Paolo; Nisoli, Mauro; Stagira, Salvatore; Sansone, Giuseppe; Valentini, Gianluca; DE SILVESTRI, Sandro; Vozzi, Caterina; Calegari, Francesca; Poletto, Luca
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Titolo del libro:
2007 CONFERENCE ON LASERS & ELECTRO-OPTICS/QUANTUM ELECTRONICS AND LASER SCIENCE CONFERENCE (CLEO/QELS 2007)