X-Ray Characterization of Surface and Sub-Surface Defects in Silicon

Contributo in Atti di convegno

Data di Pubblicazione:

2001

Abstract:

Risultati del progetto di realizzazione del sistema di detezione veloce di difetti meccanici sulle celle solari per mezzo di apparati a raggi X. Il candidato ha utilizzato radiografi a media ed alta risoluzione, utilizzando tubi a RX microfocus e sistemi CCD di detezione ad alta risoluzione, simili ai sistemi medicali. In questo modo si è giunti ad analizzare una cella in 4 secondi, raffinamento compreso.

Tipologia CRIS:

04.01 Contributo in Atti di convegno

Keywords:

celle solari; raggi X; radiografia; camera di Lang

Elenco autori:

Tempesta, Emanuela; Plescia, Paolo

Autori di Ateneo:

PLESCIA PAOLO

Link alla scheda completa:

https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/210994

Titolo del libro:

Seventeenth European photovoltaic solar energy conference. Con CD-ROM