Lattice strain and static disorder determination in Si/Si_ {1-x} Ge_ {x}/Si heterostructures by convergent beam electron diffraction
Articolo
Data di Pubblicazione:
1999
Tipologia CRIS:
01.01 Articolo in rivista
Keywords:
BOND-LENGTH RELAXATION; SI1-XGEX ALLOYS; MICROSCOPY; SIMULATION; PARAMETERS; MISMATCH
Elenco autori:
Armigliato, Aldo; Balboni, Roberto; Cembali, Gianfranco
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