Una tecnica interferometrica per la determinazione delle non linearità termiche nei vetri drogati da semiconduttori
Poster
Data di Pubblicazione:
1988
Tipologia CRIS:
04.03 Poster in Atti di convegno
Keywords:
Interferometria; ottica nonlineare; optoelettronica; semiconduttore
Elenco autori:
DE NICOLA, Sergio; Pierattini, Giovanni; Mormile, Pasquale
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