Strain measurements in thin film structures by convergent beam electron diffraction

Articolo
Data di Pubblicazione:
1997
Tipologia CRIS:
01.01 Articolo in rivista
Keywords:
MICROSCOPY; HETEROSTRUCTURES; RELAXATION
Elenco autori:
Autori di Ateneo:
Link alla scheda completa:
https://iris.cnr.it/handle/20.500.14243/198684
Pubblicato in:
JOURNAL DE PHYSIQUE III
Journal