Analytical electron microscopy of Si 1- x Ge x/Si heterostructures and local isolation structures
Articolo
Data di Pubblicazione:
1995
Tipologia CRIS:
01.01 Articolo in rivista
Keywords:
MONTE-CARLO SIMULATION; X-RAY-MICROANALYSIS; THIN-FILMS; DIFFRACTION
Elenco autori:
Armigliato, Aldo; Balboni, Roberto
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