Nonlinear characterization of nm-thick dielectric layers using Surface Plasmon Resonance techniques
Articolo
Data di Pubblicazione:
2003
Tipologia CRIS:
01.01 Articolo in rivista
Elenco autori:
Sottini, Stefano; Toci, Guido; Giorgetti, Emilia; Margheri, Giancarlo
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