Il nuovo spettrometro xpixe: analisi qualitative e quantitative nel settore dei beni culturali
Abstract
Publication Date:
2007
abstract:
Viene presentato il nuovo sistema portatile XPIXE-a basato su una sorgente di raggi X e particelle alfa emessi da 244Cm. Il sistema effettua simultaneamente misure PIXE e XRF; permettendo così di rivelare con buona efficienza, sia elementi leggeri che medio-pesanti.Vengono forniti alcuni esempi di applicazione sulla analisi quantitativa del ricoprimento nero in ceramica attica e sulla analisi qualitativa su una coppa bronzea di probabile provenienza egea.
Iris type:
04.02 Abstract in Atti di convegno
List of contributors:
Pappalardo, Lighea; Romano, FRANCESCO PAOLO
Book title:
XCIII Congresso Nazionale della Società Italiana di Fisica, book of abastracts