Il nuovo spettrometro xpixe: analisi qualitative e quantitative nel settore dei beni culturali

Viene presentato il nuovo sistema portatile XPIXE-a basato su una sorgente di raggi X e particelle alfa emessi da 244Cm. Il sistema effettua simultaneamente misure PIXE e XRF; permettendo così di rivelare con buona efficienza, sia elementi leggeri che medio-pesanti.Vengono forniti alcuni esempi di applicazione sulla analisi quantitativa del ricoprimento nero in ceramica attica e sulla analisi qualitativa su una coppa bronzea di probabile provenienza egea.